@taka_hvc1 丸ピンソケットに交換、タンタルコンデンサを抱かせて、別基板で動作確認をしてからSRAMを挿入
@taka_hvc1 高速試験ではなく低速試験ではダメ? (データ確定と制御線の操作との間隔が問題なければ、ダラダラやっていても問題ないイメージが)
@hadsn 80〜120nsタイミングであればH8で試験可能です
@taka_hvc1 救いようのないクズを弾く作業くらいはしたいよね、と (とか言っていると、ブン回さないとまともに動かない謎の特性が出てくるんだよなあ、とかそういう)
@hadsn ぜんぶでウケる(実際そんなかからん)、ところで我が家には10ns台の高速SRAMをちゃんとテストする設備がありません